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Issue Date
Title
Author(s)
1998
二次电子成分衬度成像方法在异质结半导体材料和器件的微结构研究中的应用
刘安生
;
邵贝羚
;
安生
;
王敬
;
刘峥
;
徐军
;
王瑞忠
;
钱佩信
1998
P-Si1-xGex/p-Si红外探测器微结构的研究
刘安生
;
邵贝羚
;
安生
;
刘峥
;
徐军
;
王瑞忠
;
钱佩信