Browsing by Author 孙玉秀
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| Issue Date | Title | Author(s) |
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| 1995 | 薄膜全耗尽SIMOX／SOIMOSFET中单晶体管Latch引起的器件性能蜕变实验研究 | 程玉华; 魏丽琼; 孙玉秀; 阎桂珍; 李映雪; 武国英; 王阳元 |
| 1995 | 薄膜全耗尽SOI MOSFET单晶体管Latch效应 | 魏丽琼; 程玉华; 孙玉秀; 阎桂珍; 李映雪; 武国英; 王阳元 |
| 1995 | 复合镀膜磁介质研究是磁记录的重要前沿方向 | 潘国宏; 孙允希; 王勤堂; 蔡一坤; 孙玉秀; 阮慎康; 张晓萍; 汪裕华 |
| 2000 | 钴铬垂直磁化膜的显微形貌和磁畴结构 | 张小平; 潘国宏; 孙允希; 王勤堂; 雷晓钧; 孙玉秀; 田芳 |
| 2000 | 钴铬垂直磁化膜的显磁化膜显微形貌和磁畴结构 | 张小平; 潘国宏; 雷晓钧; 孙玉秀 |
| 2000 | 钴铬垂直磁化膜的显微形貌和磁畴结构 | 张小平; 潘国宏; 孙允希; 王勤堂; 雷晓钧; 孙玉秀; 田芳 |
| 2001 | 钴铬垂直磁化膜的高分辨显微学研究 | 潘国宏; 张小平; 孙允希; 王勤堂; 孙玉秀 |
| 1995 | 硅膜厚度和背栅对SIMOX／SOI薄膜全耗尽MOSFET特性影响的研究 | 魏丽琼; 程玉华; 孙玉秀; 阎桂珍; 李映雪; 武国英; 王阳元 |
| 1991 | 应用于硅化物自对准技术的CoSi_2薄膜特性及形貌研究 | 陶江; 武国英; 张国炳; 孙玉秀; 王阳元; 都安彦 |
| 1999 | 用高分辨显微技术对钴铬垂直磁化薄膜作微、磁结构研究 | 潘国宏; 张小平; 雷晓均; 王勤堂; 孙允希; 孙玉秀; 田芳 |
| 1996 | 在线淀积LPCVD多晶硅石英系统保护层装置 | 孙玉秀; 刘诗美; 李静; 郝一龙; 张国炳 |
| 1998 | 在线淀积LPCVD多晶硅石英系统保护层装置 | 孙玉秀; 刘诗美; 李静; 郝一龙; 张国炳 |