Browsing by Author 武国英

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19911微米自对准CoSi_2 SALICIDE MOS技术研究徐立; 武国英; 张国炳; 王阳元
1993AI/W/TiN/AI及AI/W/TiW/AI结构特性研究武国英; 郝一龙; 徐立; 张国炳; 刘晓华
2003AlGaN PIN结构紫外探测器研制和建模分析周劲; 郝一龙; 武国英
2003AlGaN PIN结构紫外探测器研制和建模分析周劲; 郝一龙; 武国英
2005AlGaN/GaN MSM紫外探测器特性周劲; 郝一龙; 武国英; 杨志坚; 张国义
2005AlGaN/GaN MSM紫外探测器特性周劲; 郝一龙; 武国英; 杨志坚; 张国义
2004AlGaN/GaN MSM紫外探测器结构中肖特基结特性周劲; 郝一龙; 武国英; 杨志坚; 张国义
2002Au-AlGaN/GaN HFET研制与器件特性张锦文; 闫桂珍; 张太平; 王玮; 宁宝俊; 武国英
2000Au-GaN肖特基结的伏安特性林兆军; 张太平; 武国英; 王玮; 阎桂珍; 孙殿照; 张建平; 张国义
1995薄膜全耗尽SIMOX/SOIMOSFET中单晶体管Latch引起的器件性能蜕变实验研究程玉华; 魏丽琼; 孙玉秀; 阎桂珍; 李映雪; 武国英; 王阳元
1995薄膜全耗尽SOI MOSFET单晶体管Latch效应魏丽琼; 程玉华; 孙玉秀; 阎桂珍; 李映雪; 武国英; 王阳元
2000测定硅各向异性腐蚀速率分布的新方法杨恒; 鲍敏杭; 沈绍群; 李昕欣; 张大成; 武国英
1992单晶硅化物及其应用武国英; 李志宏; 郝一龙; 陈文茹
1992CoSi↓2中As↑+和BF↓2注入杂质再分布形成硅化物化浅结性能研究徐立; 张国炳; 陈文茹; 武国英; 王阳元; 龚里
1998DEM技术研究陈迪; 张大成; 丁桂甫; 赵小林; 章吉良; 杨春生; 蔡炳初; 武国英
1999多晶硅薄膜应力特性研究张国炳; 郝一龙; 田大宇; 刘诗美; 王铁松; 武国英
2000多晶硅薄膜在微机械光开关中的应用张培玉; 武国英; 李婷
1993反应溅射TiW_yN_x薄膜扩散势垒特性研究张国炳; 武国英; 徐立; 郝一龙; 隋小平
1996改进的电迁移独立失效元模型李志宏; 顾页; 武国英; 王阳元
1991高温工艺对TiSi_2/n~+-Poly-Si复合栅MOS电容特性及TiSi_2膜性质的影响陶江; 武国英; 张国炳; 陈文茹; 王阳元