Browsing by Author 韩汝琦
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| Issue Date | Title | Author(s) |
|---|---|---|
| 2000 | 50nm肖特基隧穿晶体管(SBTT)特性模拟 | 杜刚; 刘晓彦; 孙雷; 韩汝琦 |
| 1995 | Ag／YBa_2Cu_3O（7－x）、Al／YB_2Cu_3O（7－x）界面特性 | 熊光成; 康晋锋; 连贵君; 王佑祥; 陈新; 韩汝琦 |
| 2003 | Al2O3栅介质的制备工艺及其泄漏电流输运机制 | 任驰; 杨红; 韩德栋; 康晋锋; 刘晓彦; 韩汝琦 |
| 2003 | Al2O3高k栅介质的可靠性 | 杨红; 康晋锋; 韩德栋; 任驰; 夏志良; 刘晓彦; 韩汝琦 |
| 2001 | 半导体器件蒙特卡罗模拟中保持电荷守恒的统计增强方法 | 杜刚; 刘晓彦; 孙雷; 韩汝琦 |
| 2002 | 半导体器件模拟技术的研究 | 刘恩峰; 刘晓彦; 韩汝琦 |
| 1983 | 半导体中杂质的自电离态的理论 | 甘子钊; 韩汝琦 |
| 2010 | 半导体精细图形及鳍形场效应管的FIN体的制作方法 | 张盛东; 黄如; 韩汝琦 |
| 2010 | 包含电阻器的存储单元的制造方法 | 刘力锋; 康晋锋; 郝跃; 刘晓彦; 陈沅沙; 高滨; 王漪; 韩汝琦 |
| 2010 | 测试阻变随机访问存储器件的数据保持特性的方法 | 刘力锋; 张浩炜; 高滨; 康晋锋; 刘晓彦; 王漪; 韩汝琦 |
| 2009 | 测试半导体器件可靠性的方法 | 刘晓彦; 杨佳琦; 康晋锋; 杨竞峰; 韩汝琦; 陈冰 |
| 2001 | CeO2高K栅介质薄膜的制备工艺及其电学性质 | 康晋锋; 刘晓彦; 王玮; 俞挺; 韩汝琦; 连贵君; 张朝晖; 熊光成 |
| 2011 | 单极阻变存储器及其制造方法 | 康晋锋; 张飞飞; 陈沅沙; 陈冰; 高滨; 刘力锋; 刘晓彦; 韩汝琦 |
| 2002 | 超薄膜层状磁性材料XY模型的临界现象 | 王漪; 刘晓彦; 韩汝琦 |
| 2005 | 超薄HfO2高K栅介质薄膜的软击穿特性 | 韩德栋; 康晋锋; 杨红; 韩汝琦 |
| 2003 | 超薄膜磁性材料上XY模型的临界现象 | 王漪; 韩汝琦; 刘晓彦; 崛口刚 |
| 1995 | 纯金属电阻率的统计模型 | 王矜奉; 张德恒; 钟维烈; 韩汝琦 |
| 1995 | 纯金属电阻率的简化模型 | 王矜奉; 王家俭; 曲保东; 钟维烈; 韩汝琦 |
| 2005 | 磁随机存储器的研究进展 | 孔令刚; 韩汝琦 |
| 2006 | Co_xTi_(1-x)O_(2-δ)体材中氢退火引起的铁磁性及结构相变 | 孔令刚; 康晋锋; 王漪; 刘力锋; 刘晓彦; 张兴; 韩汝琦 |