| Issue Date | Title | Author(s) |
| Feb-2024 | Muon Collider Forum report | Black, K. M.; Jindariani, S.; Li, D.; Maltoni, F.; Meade, P.; Stratakis, D.; Acosta, D.; Agarwal, R.; Agashe, K.; Aime, C.; Ally, D.; Apresyan, A.; Apyan, A.; Asadi, P.; Athanasakos, D.; Bao, Y.; Bartosik, N.; Barzi, E.; Bauerdick, L. A. T.; Beacham, J.; Belomestnykh, S.; Berg, J. S.; Berryhill, J.; Bertolin, A.; Bhat, P. C.; Biagini, M. E.; Bloom, K.; Bose, T.; Bross, A.; Brost, E.; Bruhwiler, N.; Buonincontri, L.; Buttazzo, D.; Candelise, V.; Canepa, A.; Capdevilla, R.; Carpenter, L.; Casarsa, M.; Celiberto, F.; Cesarotti, C.; Chachamis, G.; Chacko, Z.; Chang, P.; Chekanov, S. V.; Chen, T. Y.; Chiesa, M.; Cohen, T.; Costa, M.; Craig, N.; Crivellin, A.; Curatolo, C.; Curtin, D.; Da Molin, G.; Dasu, S.; de Gouvea, A.; Denisov, D.; Dermisek, R.; Di Petrillo, K. F.; Dorigo, T.; Duarte, J. M.; Elvira, V. D.; Essig, R.; Everaerts, P.; Fan, J.; Felcini, M.; Fiore, G.; Fiorina, D.; Forslund, M.; Franceschini, R.; Garzelli, M. V.; Gerber, C. E.; Giambastiani, L.; Giove, D.; Guiducci, S.; Han, T.; Hermanek, K.; Herwig, C.; Hirschauer, J.; Holmes, T. R.; Homiller, S.; Horyn, L. A.; Ivanov, A.; Jayatilaka, B.; Jia, H.; Jung, C. K.; Kahn, Y.; Kaplan, D. M.; Kaur, M.; Kawale, M.; Koppenburg, P.; Krintiras, G.; Krizka, K.; Kuchma, B.; Lee, L.; Li, L.; Li, P.; Li, Q.; Li, W.; Lipton, R.; Liu, Z.; Lomte, S.; Lu, Q.; Lucchesi, D.; Luo, T.; Lyu, K.; Ma, Y.; Machado, P. A. N.; Madrid, C.; Mahon, D. J.; Mazzacane, A.; McGinnis, N.; McLean, C.; Mele, B.; Meloni, F.; Middleton, S. C.; Mishra, R. K.; Mokhov, N.; Montella, A.; Morandin, M.; Nagaitsev, S.; Nardi, F.; Neubauer, M. S.; Neuffer, D. V.; Newman, H.; Ogaz, R.; Ojalvo, I.; Oksuzian, I.; Orimoto, T.; Ozek, B.; Pachal, K.; Griso, S. Pagan; Panci, P.; Papadimitriou, V.; Pastrone, N.; Pedro, K.; Pellemoine, F.; Perloff, A.; Pinna, D.; Piccinini, F.; Pleier, Marc-Andre; Posen, S.; Potamianos, K.; Rappoccio, S.; Reece, M.; Reina, L.; Hall, A. Reinsvold; Riccardi, C.; Ristori, L.; Robens, T.; Ruiz, R.; Sala, P.; Schulte, D.; Sestini, L.; Shiltsev, V.; Snopok, P.; Stark, G.; Stupak, J., III; Su, S.; Sundrum, R.; Swiatlowski, M.; Syphers, M. J.; Taffard, A.; Thompson, W.; Torun, Y.; Tully, C. G.; Vai, I.; Valente, M.; van Rienen, U.; van Weelderen, R.; Velev, G.; Venkatasubramanian, N.; Vittorio, L.; Vuosalo, C.; Wang, X.; Weber, H.; Wu, R.; Wu, Y.; Wulzer, A.; Xie, K.; Xie, S.; Yohay, R.; Yonehara, K.; Yu, F.; Zlobin, A. V.; Zuliani, D.; Zurita, J. |
| 8-Aug-2022 | REVIEW OF PARTICLE PHYSICS | Workman, R. L.; Burkert, V. D.; Crede, V; Klempt, E.; Thoma, U.; Tiator, L.; Agashe, K.; Aielli, G.; Allanach, B. C.; Amsler, C.; Antonelli, M.; Aschenauer, E. C.; Asner, D. M.; Baer, H.; Banerjee, Sw; Barnett, R. M.; Baudis, L.; Bauer, C. W.; Beatty, J. J.; Belousov, V., I; Beringer, J.; Bettini, A.; Biebel, O.; Black, K. M.; Blucher, E.; Bonventre, R.; Bryzgalov, V. V.; Buchmuller, O.; Bychkov, M. A.; Cahn, R. N.; Carena, M.; Ceccucci, A.; Cerri, A.; Chivukula, R. Sekhar; Cowan, G.; Cranmer, K.; Cremonesi, O.; D'Ambrosio, G.; Damour, T.; de Florian, D.; de Gouvea, A.; DeGrand, T.; de Jong, P.; Demers, S.; Dobrescu, B. A.; D'Onofrio, M.; Doser, M.; Dreiner, H. K.; Eerola, P.; Egede, U.; Eidelman, S.; El-Khadra, A. X.; Ellis, J.; Eno, S. C.; Erler, J.; Ezhela, V. V.; Fetscher, W.; Fields, B. D.; Freitas, A.; Gallagher, H.; Gershtein, Y.; Gherghetta, T.; Gonzalez-Garcia, M. C.; Goodman, M.; Grab, C.; Gritsan, A., V; Grojean, C.; Groom, D. E.; Grunewald, M.; Gurtu, A.; Gutsche, T.; Haber, H. E.; Hamel, Matthieu; Hanhart, C.; Hashimoto, S.; Hayato, Y.; Hebecker, A.; Heinemeyer, S.; Hernandez-Rey, J. J.; Hikasa, K.; Hisano, J.; Hocker, A.; Holder, J.; Hsu, L.; Huston, J.; Hyodo, T.; Ianni, Al; Kado, M.; Karliner, M.; Katz, U. F.; Kenzie, M.; Khoze, V. A.; Klein, S. R.; Krauss, F.; Kreps, M.; Krizan, P.; Krusche, B.; Kwon, Y.; Lahav, O.; Laiho, J.; Lellouch, L. P.; Lesgourgues, J.; Liddle, A. R.; Ligeti, Z.; Lin, C-J; Lippmann, C.; Liss, T. M.; Littenberg, L.; Lourenco, C.; Lugovsky, K. S.; Lugovsky, S. B.; Lusiani, A.; Makida, Y.; Maltoni, F.; Mannel, T.; Manohar, A., V; Marciano, W. J.; Masoni, A.; Matthews, J.; Meissner, U-G; Melzer-Pellmann, I-A; Mikhasenko, M.; Miller, D. J.; Milstead, D.; Mitchell, R. E.; Moenig, K.; Molaro, P.; Moortgat, F.; Moskovic, M.; Nakamura, K.; Narain, M.; Nason, P.; Navas, S.; Nelles, A.; Neubert, M.; Nevski, P.; Nir, Y.; Olive, K. A.; Patrignani, C.; Peacock, J. A.; Petrov, V. A.; Pianori, E.; Pich, A.; Piepke, A.; Pietropaolo, F.; Pomarol, A.; Pordes, S.; Profumo, S.; Quadt, A.; Rabbertz, K.; Rademacker, J.; Raffelt, G.; Ramsey-Musolf, M.; Ratcliff, B. N.; Richardson, P.; Ringwald, A.; Robinson, D. J.; Roesler, S.; Rolli, S.; Romaniouk, A.; Rosenberg, L. J.; Rosner, J. L.; Rybka, G.; Ryskin, M. G.; Ryutin, R. A.; Sakai, Y.; Sarkar, S.; Sauli, F.; Schneider, O.; Schoenert, S.; Scholberg, K.; Schwartz, A. J.; Schwiening, J.; Scott, D.; Sefkow, F.; Seljak, U.; Sharma, V; Sharpe, S. R.; Shiltsev, V; Signorelli, G.; Silari, M.; Simon, F.; Sjostrand, T.; Skands, P.; Skwarnicki, T.; Smoot, G. F.; Soffer, A.; Sozzi, M. S.; Spanier, S.; Spiering, C.; Stahl, A.; Stone, S. L.; Sumino, Y.; Syphers, M. J.; Takahashi, F.; Tanabashi, M.; Tanaka, J.; Tasevsky, M.; Terao, K.; Terashi, K.; Terning, J.; Thorne, R. S.; Titov, M.; Tkachenko, N. P.; Tovey, D. R.; Trabelsi, K.; Urquijo, P.; Valencia, G.; Van de Water, R.; Varelas, N.; Venanzoni, G.; Verde, L.; Vivarelli, I; Vogel, P.; Vogelsang, W.; Vorobyev, V.; Wakely, S. P.; Walkowiak, W.; Walter, C. W.; Wands, D.; Weinberg, D. H.; Weinberg, E. J.; Wermes, N.; White, M.; Wiencke, L. R.; Willocq, S.; Wohl, C. G.; Woody, C. L.; Yao, W-M; Yokoyama, M.; Yoshida, R.; Zanderighi, G.; Zeller, G. P.; Zenin, O., V; Zhu, R-Y; Zhu, Shi-Lin; Zimmermann, F.; Zyla, P. A.; Anderson, J.; Basaglia, T.; Schaffner, P.; Zheng, W. |
| 2018 | REVIEW OF PARTICLE PHYSICS Particle Data Group | Tanabashi, M.; Grp, Particle Data; Hagiwara, K.; Hikasa, K.; Nakamura, K.; Sumino, Y.; Takahashi, F.; Tanaka, J.; Agashe, K.; Aielli, G.; Amsler, C.; Antonelli, M.; Asner, D. M.; Baer, H.; Banerjee, Sw.; Barnett, R. M.; Basaglia, T.; Bauer, C. W.; Beatty, J. J.; Belousov, V. I.; Beringer, J.; Bethke, S.; Bettini, A.; Bichsel, H.; Biebel, O.; Black, K. M.; Blucher, E.; Buchmuller, O.; Burkert, V.; Bychkov, M. A.; Cahn, R. N.; Carena, M.; Ceccucci, A.; Cerri, A.; Chakraborty, D.; Chen, M.C.; Chivukula, R. S.; Cowan, G.; Dahl, O.; D'Ambrosio, G.; Da |
