Title测试高压环境对标准单元库影响的方法
Authors陈曦
张翼
程玉华
Affiliation上海北京大学微电子研究院
Issue Date2011
Citation上海.
Abstract本发明提出了一种高压环境对标准单元库影响的测试方法,考虑到SOI低压与高压器件共存的工作环境,该方法通过测量被测单元的延迟和信号的波动,实现对高压环境下,单元工作情况的检测。通过设置高压器件与低压器件的多种距离,以及通过缓冲器设置高压器件的开启时刻,测试高压环境对测试单元的不同种类的影响。在测试芯片中添加选择器来减少PAD的个数,达到了减少芯片面积的目的。
URIhttp://hdl.handle.net/20.500.11897/192839
Appears in Collections:上海微电子研究院
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