| Title | 大面积扩散Nb_3Sn超导薄膜TEM样品的制备及TEM观察 |
| Authors | 张金龙 蔡学榆 李传义 马长林 尹道乐 朱宜 |
| Affiliation | 北京大学固体物理研究所物理系 北京大学电子显微镜实验室 |
| Keywords | TEM观察 超导薄膜 Nb_3Sn 制样方法 高分辨率 电子显微镜观察 毫米量级 光刻胶 微观机制 临界电流密度 |
| Issue Date | 1986 |
| Publisher | 低温物理学报 |
| Citation | 低温物理学报.1986,(01),62-67. |
| Abstract | 用背面防护漂浮减薄法制备了扩散Nb_3Sn超导薄膜的大面积(平方毫米量级)IEM样品。给出了用TEM-200cx电子显微镜观察的典型电子显微象。结果表明,这种新颖的制样方法对于大面积检视和高分辨率的细致研究都是适用的。它将有助于揭示超导材料中的微观机制。 |
| URI | http://hdl.handle.net/20.500.11897/296516 |
| ISSN | 1000-3258 |
| Appears in Collections: | 物理学院 |
