Title | 核分析技术在新型光电材料的纳米微结构研究中的新应用 |
Authors | 姚淑德 王坤 丁志博 王欢 陈田祥 华伟 张斌 马宏骥 聂锐 |
Affiliation | 北京大学物理学院技术物理系 |
Keywords | 光电材料 分析技术 微结构 材料制备 材料结构 材料界 新型材料 优化实验 交叉学科领域 测试方法 |
Issue Date | 2006 |
Citation | 第一届中国核技术及应用研究学术研讨会.. |
Abstract | 新型光电材料GaN、ZnO、SiC等及其衍生物具有很多优良特性,因而有非常广阔的重要的应用前景, 十几年来在国内外材料界的研究异常兴旺,备受关注;但是对这些新材料的性质和应用的研究远比对材料结构的研究重视和深入得多。面对新课题提出的新挑战,我们综合利用多种核分析技术对这些新型材料的纳米微结构作了比较深入的研究,获得了许多重要信息,为材料制备人员优化实验条件起到了关键的作用, 并为核分析技术的应用辟出新途径。 |
URI | http://hdl.handle.net/20.500.11897/83601 |
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